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WaveMaster® Compact 2 Reflex

商品介紹 使用Shack-Hartmann傳感器測量單透鏡表面形貌

WaveMaster® Compact Reflex 

透過Shack-Hartmann傳感器測量單透鏡表面形貌

WaveMaster® Compact 2  Reflex針對方便性和靈活性進行了優化,使用反射式的Shack-Hartmann傳感測器測量表面輪廓

主要特點

  • 使用Shack-Hartmann傳感器快速測量表面輪廓
  • 在不同樣品間可快速切換
  • 快速的測量速度與高量的產出
  • 亞微米等級的高精度雙軸調整樣品架
  • 校正補償: 於相同樣品中,僅需要最微量的樣品校正調整
  • 測量精度達λ/ 20
  • 波前傳感器和成像物鏡在出瞳的自動定位
  • 波前數據與主鏡頭或設計值的實時比較
  • 提供不同數值孔徑的點光源(最高0.95)
  • 低振動敏感度
  • 使用Shack-Hartmann傳感器測量和分析表面的整合軟體 

產品應用

WaveMaster® Compact Reflex可以應用在下述部分

  • 測量非球面透鏡,球體和平片的表面形貌
  • 半徑量測

Surface measurement in reflection with a Shack-Hartmann sensor

Shack-Hartmann傳感器測量曲面和半徑

WaveSensor®軟體結構清晰且易於使用,包含所有測量和分析樣品。

該軟體與Shack-Hartmann傳感器進行通信,並即時分析測量的鏡片表面。此外,它還可以控制WaveMaster®儀器。

優點

  • 表單驅動的操作指南
  • 簡單直觀地測量和分析波前和表面
  • 全方位的軟體功能:數據收集,數據計算,校準,數據顯示,即時分析
  • 通過多重參數表現各種表面形貌:
  1. 非球面方程
  2. Zernike多項式
  3. 圓錐方程
  4. 球面方程
  5. 自由曲面
  • 載入參考表面數據並在測量過程中進行即時比較

軟體詳述

基本功能:

  • 即時測量和分析波前
  • 顯示:
  1. 2D-或3D-的波前、邊緣和相位
  2. PV和RMS
  3. 強度
  4. 局部斜率
  5. 相機圖像
  • 絕對和相對測量模式
  • 與主鏡頭或設計數據進行即時比較
  • 波前和相機圖像的平均
  • 測量和分析區域的可調式遮罩
  • 可儲存的配置檔
  • 憑證
  • 多種分析可用模組

WaveMaster®儀器控制:

  • 自動對焦功能
  • 自動尋找出射曈平面
  • 自動樣品定位(選配)
  • 使用預先設定的配置檔

反射分析模組:

  • 即時表面形貌分析
  • 即時表面擬合
  • 與參考數據進行比較
  • 將參考數據輸入為係數或點雲資料
  • 結果(通過/失效)判定分類
  • 以數字和圖形顯示的擬合結果與設計資料的比較

 

Upgrades & Accessories for WaveMaster® Compact Universal 

升級及配件

波前儀的特點是靈活的設計,可以使儀器適應特定的應用需求。

WaveMaster®系統的功能在以下附件和升級的幫助下得以擴充。

 

波前傳感器

當需要更高的動態範圍或精度時,WaveMaster®儀器的波前傳感器可以互換。作為升級,所有可用的WaveSensor®設備都可以實施到WaveMaster®儀器中。TRIOPTICS提供多種波前傳感器,可根據要求提供。

 

照明

可使用各種具有不同波長和數值孔徑的光源。

藉由運動支架,可以更簡易的更換數值孔徑。

 

準直儀

為了最大程度地利用傳感器的動態範圍,可使用一套準直儀來增加橫向分辨率。

根據樣品直徑和波前傳感器的尺寸,必須選擇最佳的放大倍率。運動支架可以方便地更換準直儀。

WaveMaster® Compact 2 sample holder

 

 

 

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