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WaveMaster® Plan

商品介紹 平面元素的波前量測

WaveMaster® Plan 

平面元素的波前量測

 The WaveMaster® Plan 用於平面光學元件的品質控制,如平板或是楔子。

該系統使用整合過的Shack-Hartmann偵測器以穿透式來測量樣品的波前。

主要特點

  • 平面光學元件的綜合分析
  • 高測量速度提供高樣品輸出
  • 樣品支架可在亞微米等級進行調整
  • 測量一系列樣品時,僅需做最少量的校準
  • 高精度的Shack-Hartmann偵測器
  • 與來自主鏡頭或或設計檔的波前數據可進行即時比較
  • 平行光源
  • 防震動設計
  • 全方位的軟體功能用以量測以及分析
  • 簡單快速地平面元件量測。如果需要調整僅需大致將樣品置於偵測器中心

產品應用

WaveMaster®Plan在穿透模式中測量平面元素的波前。

Hartman Sensors傳感器進行波前測量

WaveSensor®軟體結構清晰且易於使用,包含所有測量和分析平面,球面和非球面樣品的功能。

該軟體與Shack-Hartmann傳感器進行通信,並即時分析測得的波前。

優點

  • 表單驅動的操作指南
  • 簡單直觀地測量和分析波前和表面
  • 全方位的軟體功能:數據收集,數據計算,校準,數據顯示,即時分析
  • 載入ZEMAX(可執行標準序列光學元件光線追蹤,非連續光學元件雜散光追蹤,以及物理光學光束傳播)和Code V(綜合性涵蓋了廣泛的光學結構與計算,提供設計、公差、價格、製造與組合的全方位發展平台,可建構多樣性的光學系統,透過圖表方式呈現出系統性能,並利用限制條件與誤差函數進行優化)的理論數據,並在測量過程中進行即時比對

軟體詳述

基本功能

  • 即時測量和分析波前
  • 顯示:
  1. 2D-或3D-的波前、邊緣和相位
  2. PV和RMS
  3. 強度
  4. 局部斜率
  5. 相機圖像
  • 絕對和相對測量模式
  • 與主鏡頭或設計數據進行即時比較
  • 波前和相機圖像的平均
  • 測量和分析區域的可調式遮罩
  • 可儲存的配置檔
  • 憑證
  • 多種分析可用模組

MTF / PSF分析模組

  • 即時計算並顯示3D MTF和PSF數據
  • 帶有MTF測量結果的表格
  • 測量結果的導出功能
  • 斯特列爾比(Strehl Ratio)的計算

ZERNIKE分析模組

  • Zernike多項式即時擬合和分析波前數據
  • 以數字和圖形顯示的擬合結果
  • 從ZEMAX和CODE V導入波前理論數據進行即時比較
  • 以ASCII和ZEMAX格式導出波前數據和分析結果
  • 可顯示Zernike係數趨勢

 

Upgrades & Accessories for  WaveMaster Compact

波前儀的特點是靈活的設計,可以使儀器適應特定的應用需求。WaveMaster®系統的功能在以下附件和升級的幫助下得以擴充。

波前傳感應器

當需要更高的動態範圍或精度時,WaveMaster®儀器的波前傳感器可以互換。作為升級,所有可用的WaveSensor®設備都可以實施到WaveMaster®儀器中。TRIOPTICS提供多種波前傳感器,可根據要求提供。

照明

可使用各種具有不同波長和數值孔徑的光源。藉由運動支架,可以更簡易的更換數值孔徑。

準直儀

為了最大程度地利用傳感器的動態範圍,可使用一套準直儀來增加橫向分辨率。

根據樣品直徑和波前傳感器的尺寸,必須選擇最佳的放大倍率。運動支架可以方便地更換準直儀。

 

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