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WaveMaster®PRO 2 / PRO 2 Wafer
商品類別:光學元件(零件)檢測

商品介紹:全自動波前量測系統,配有Shack-Hartmann感測器,用於透鏡和光學晶片的串聯測試。

WaveMaster®PRO 2 / PRO 2 Wafer

鏡頭和晶圓測試

大批量生產小型塑膠或玻璃鏡片的光學品質與效率要求不斷提高。使用波前量測技術在這樣的批量生產中可以產生很大的優化潛力。

WaveMaster® PRO 2 & PRO 2 Wafer為批量的光學與光學晶片檢測制定了新的標準。典型的量測時間為2秒。

光學元件與托盤的快速更換可以滿足批量生產的先決要件。就測量技術而言,WaveMaster®PRO 2和PRO 2 Wafer使用Shack-Hartmann感測器以確定波前的各種衍生參數。這個非常好的資料庫可以用在其他生產中的優化。

主要特點

  • 量測時間:每個鏡片小於兩秒
  • 大量樣品的全自動量測(晶圓或載盤)
  • 使用者可以選擇通過或失敗的標準
  • 絕對或相對的波前測量
  • 完整的波前分析(PV,RMS,Zernike,PSF,MTF,Strehl)
  • 有兩種類型的測試
  1. 用於測量球面與非球面透鏡的設置(單透鏡或晶圓)
  2. 用於平面量測(單面或晶圓)
  • 輸出所有單鏡片的量測結果
  • 整合量測系統,用於測量晶圓方向,總體晶圓凹陷和傾斜度

產品應用

品質控制

  • 球面或非球面鏡片
  • 光學窗
  • 濾光片
  • 光學晶圓

Shack-Hartmann傳感器在批量生產中的應用

  • 使用Zernike係數與設計數據進行比較
  • 直接比較主樣品
  • 使用波前分析確定MTF,材料缺陷和生產誤差
  • 楔角(可選)
  • EFL(可選)

Technical data WaveMaster PRO2

WaveSensor 或 WaveMaster 軟體®

該軟體結構全面,使用者友好,包括使用WaveSensor或WaveMaster測量和分析球面和非球面樣品所需的所有功能。由於其靈活的可配置性,所有重要的測量結果都會顯示出來。

該軟體與 Shack-Hartmann 感測器通信,並即時分析測量的波前。此外,WaveMaster還可以控制測量系統,以便對準樣品。

  • 清晰、功能表引導和可配置的操作
  • 簡單直觀地實時測量和分析整個鏡頭元件或表面上的波前
  • 一個軟體包羅萬象:數據採集、數據計算、校準和數據顯示
  • 絕對和相對測量模式,可與 ZEMAX 和 Code V 的理論設計數據或參考鏡頭進行即時比較
  • 通過輸出測量證書完成文件記錄
  • 在可調節的測量和分析範圍內清晰地描繪
  • 2D波前
  • PV 和 RMS
  • 強度
  • 相機圖像
  • 通過多個參數化完整描述表面形貌:
  • 非球面方程
  • Zernike 多項式
  • 圓錐方程
  • 球面方程
  • 自由曲面
1 加 9 等於幾  
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